标签：chain scan mask observe compactor masking

1. X-blocking 

　　使用EDT compactor压缩scan chain会导致X-blocking，compactor会将scan chain的observe值做异或运算，两条chain中的任意一条为X， edt channel output 都会observe X，这导致被mask的一条chain对应位置的cell所测fault不能被cover到，会影响test coverage。

2. scan chain masking

　　scan chain mask 有两种方式，一种是one-hot masking，一种是flexible masking。

　　one-hot masking每次只选择一条chain，其他chain都被mask，对compactor输出0，一般在non-masking 和fexible masking算法不能再有效的测出fault后使用。

　　flexible masking选择那些产生X state的chain mask，然后在output observe没有X state的pattern。这样可以在减少pattern count的同时最大化fault detection。

标签：chain,scan,mask,observe,compactor,masking
来源： https://www.cnblogs.com/6y4z/p/16624720.html

本站声明： 1. iCode9 技术分享网（下文简称本站）提供的所有内容，仅供技术学习、探讨和分享；
2. 关于本站的所有留言、评论、转载及引用，纯属内容发起人的个人观点，与本站观点和立场无关；
3. 关于本站的所有言论和文字，纯属内容发起人的个人观点，与本站观点和立场无关；
4. 本站文章均是网友提供，不完全保证技术分享内容的完整性、准确性、时效性、风险性和版权归属；如您发现该文章侵犯了您的权益，可联系我们第一时间进行删除；
5. 本站为非盈利性的个人网站，所有内容不会用来进行牟利，也不会利用任何形式的广告来间接获益，纯粹是为了广大技术爱好者提供技术内容和技术思想的分享性交流网站。