DFT常识知识概要 DFT是什么 可测性设计，指的是在芯片原始设计中阶段即插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，通过这部分逻辑，生成测试向量，达到测试大规模芯片的目的（在后端中添加的）。 DFT核心技术与不同方面 DFT的种类 DFT主要有三种 扫描路径 SCAN path，有
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