什么是缺陷密度?
缺陷密度是软件/模块在特定运行或开发期间确认的缺陷数量除以软件/模块的大小。它使人们能够决定某个软件是否已准备好发布。
缺陷密度是按每千行代码(即 KLOC)计算的。
如何计算缺陷密度
测量缺陷密度的公式:
缺陷密度=缺陷数量/版本大小
版本的大小可以用一行代码(LoC)来衡量。
缺陷密度示例
假设有3个模块集成到软件产品中。每个模块都发现了以下数量的缺陷:
- 模块1 = 10个缺陷
- 模块2 = 20个缺陷
- 模块3 = 10个缺陷
缺陷总数= 10 + 20 + 10 = 40
每个模块的代码总行是:
- 模块1 = 1000 LoC
- 模块2 = 1500 LoC
- 单元3 = 500 LoC
总代码行= 1000 + 1500 + 500 = 3000
缺陷密度的计算公式为:
缺陷密度= 40/3000 = 0.013333 缺陷/LoC= 13.333 缺陷/KLoC
缺陷密度标准
对于缺陷密度没有固定的标准,但研究表明,每千行代码一个缺陷(1缺陷/KLoC)通常被认为是良好项目质量的标志。
影响缺陷密度指标的因素
- 代码复杂度
- 计算中考虑的缺陷类型
- 计算缺陷密度所考虑的持续时间
- 开发人员或测试人员技能
缺陷密度的优点
- 有助于衡量测试的有效性
- 有助于区分组件/软件模块中的缺陷
- 在确定需要纠正或改进的区域时很有用
- 在指出高风险成分时很有用
- 有助于确定对各种资源的培训需求
- 有助于估计由于缺陷而导致的测试和返工
- 可以估计软件中剩余的缺陷
- 在发布之前,我们可以确定我们的测试是否充分
- 我们可以确保数据库具有标准的缺陷密度
标签:LoC,密度,10,代码,模块,缺陷 来源: https://www.cnblogs.com/bwj1234562021/p/14550914.html
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