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整流桥KBP307-ASEMI如何测量好坏之电阻测试法

2021-10-27 16:33:41  阅读:241  来源: 互联网

标签:芯片 测试法 整流桥 KBP307 ASEMI 万用表


编辑-Z

测量整流桥好坏的方法一般有两种,一种是电阻测试法,一种是压降测试法。整流桥KBP307-ASEMI如何测量好坏?我们可以用电阻测试法。

 

KBP307参数描述

型号:KBP307

封装:KBP-4/DIP-4

特性:整流扁桥

电性参数:3A 1000V

芯片材质:GPP

正向电流(Io):3A

芯片个数:4

正向电压(VF):1.10V

浪涌电流Ifsm:50A

漏电流(Ir):10uA

工作温度:-55~+150℃

恢复时间(Trr):500ns

引线数量:4

 

 

电阻测试法是利用二极管的单向导通特性,测试其正向阻值读数和反向截止时无读数来判断其好坏。这种测量整流桥KBP307质量的方法是一种很常见的方法。

 

测试工具和对象:一个普通万用表和一个待判断的KBP307整流桥。

测试条件设置:万用表设置在20K欧姆档,红笔万用表正极,黑笔万用表负极。

 

测试方法和步骤是:红表笔接KBP307整流桥的负极,黑表笔分别接两个AC引脚。如果有读数显示,说明负极和AC之间的两颗芯片正常;黑笔接KBP307整流桥正极,红笔分别检测两个AC脚,如果有读数显示,说明整流桥KBP307正极与AC之间的两颗芯片正常的。

 

测试结果总结:如果测试时反馈的结果如上,说明KBP307整流桥4个芯片正常,万用表读值为测试芯片内阻值;如果存在不一致,例如数值为1(无穷大)表示整流桥KBP307中的芯片已损坏。

 

以上就是关于整流桥KBP307-ASEMI如何测量好坏之电阻测试法的详细介绍。ASEMI产品广泛应用于:开关电源、LED照明、集成电路、移动通讯、计算机、工业自动化控制设备、汽车电子以及液晶电视、IoT、智能家居、医疗仪器、 电磁炉等大小家电。

 

 

标签:芯片,测试法,整流桥,KBP307,ASEMI,万用表
来源: https://www.cnblogs.com/qyx3868/p/15471371.html

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