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《炬丰科技-半导体工艺》--技术资料合集29

2021-09-09 17:01:06  阅读:200  来源: 互联网

标签:晶圆 -- 单晶 29 光刻胶 工艺 蚀刻 清洗 合集


一:单晶片清洗中的时间影响

二:旋转清洗工艺

三:单片湿法刻蚀

四:等离子体的微纳米制造

五:电化学行为后的蚀刻清洗

六:2021年电子半导体白皮书

七:多通道晶圆缺陷检测方法

八:晶圆背面高效清洁工艺

九:晶片中去除超音速颗粒

十:光刻胶剥离方法

十一:光刻胶的湿剥离工艺

十二:硅加工的高效清洁

十三:光刻中接触孔和沟槽的双重构图策略

十四:硅片CMP中材料去除率的化学影响

十五:防止种植体表面生物膜形成的表面涂层策略

十六:高频超声清洗半导体晶片的方法

十七:单片晶圆清洗工具干燥性能评估

十八:氮化栅氧化物的表面制备挑战

十九:单晶片湿法清洁工艺的氧气控制

二十:单晶圆工具湿蚀刻时的光刻胶附着力

标签:晶圆,--,单晶,29,光刻胶,工艺,蚀刻,清洗,合集
来源: https://blog.csdn.net/hlkn2020/article/details/120204767

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